大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于原子力显微镜检测的问题，于是小编就整理了5个相关介绍原子力显微镜检测的解答，让我们一起看看吧。
原子力显微镜测杨氏模量原理？
原子力显微镜测量杨氏模量的原理:
设长为L、截面积为S的钢丝，在外力F作用下在长度方向伸长△L。
根据胡克定律，在弹性限度内，正应力F/S与拉伸应变 △L/L成正比，
结论:杨氏模量的大小仅取决于材料本身的性质，与材料的几何形状及所受外力的大小无关。
原子力显微镜和扫描电镜的异同点？
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。原子力显微镜图像怎么看？
当探针和样品之间的距离达到可以检测到原子力的范围时，悬臂在其固有本征频率(f0)被激发，悬臂的共振频率(f)会偏离其原始共振频率(固有本征频率)。
换句话说，在可以检测到原子力的范围内，频移(df=f-f0)将被观察到。因此，当探针和样品之间的距离处于非接触区域时，随着探针和样品之间的距离变小，频移沿负方向增加。
原子力显微镜（AFM）的原理？
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。
利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
原子力显微镜属于电子显微镜吗？
是的，原子力显微镜属于电子显微镜的一种。电子显微镜是一类利用电子束来观察微观结构和表面形貌的仪器。原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是其中的一种类型。与传统的透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）不同，AFM是利用一个探针（或称探头）在样品表面上进行扫描，通过探针对样品表面的相互作用力测量来获取样品的拓扑（高度）图像和其他性质的数据。原子力显微镜广泛应用于材料科学、生物科学等领域。
电子显微镜是利用电子束代替可见光来成像的纤维设备,由于普通光学显微镜受可见光波长限制,分辨率不高,而电子束的德布罗意波长远远低于可见光,分辨率自然更高. 原子力显微镜是一种可用来研究固体材料表面结构的分析仪器,它利用被测物体表面与感应元件之间的原子力相互作用来探测物体表面的情况,与电子显微镜相比可以提供三维图像,所以,原子力显微镜不属于电子显微镜,是两种不同原理的显微设备.
到此，以上就是小编对于原子力显微镜检测的问题就介绍到这了，希望介绍关于原子力显微镜检测的5点解答对大家有用。
